6/11（木）「テストプロセスに潜む非効率性を改善する3つの方法」
2020年6月11日（木）
3:00 PM – 3:45 PM
(UTC+09:00) Osaka, Sapporo, Tokyo
製品の複雑さが増す一方で、市場投入までの時間も短縮しているため、テストスケジュールやテスト要件に対するプレッシャーも、ますます大きくなってきています。
本ウェビナーではテストプロセスにおける課題を検証、非効率性を改善する３つの方法を紹介し、NIが提供しているSystemLink（テスト環境管理・データ管理ソフトウェア）による、テストシステム管理や計測データ管理のデモンストレーションを交えながら 最適解を提案します。
アジェンダ（セミナー30分＋質疑応答15分）
- 自動テストで頻繁に取りざたされる課題
- 複雑なテストコンフィグレーションの管理にかかるオーバーヘッドを削減
- 運用データから得られるインサイトを基に、コストを最適化
- エラーの根本原因の分析にかかる時間を短縮
- 質疑応答（申し込み時に質問をお送りください。）
注意事項 ：競合他社の方の参加はお断りさせていただきます。予めご了承ください。