6/11(木)「テストプロセスに潜む非効率性を改善する3つの方法」

 

2020年6月11日(木)

3:00 PM – 3:45 PM

(GMT+09:00) Osaka, Sapporo, Tokyo

 
製品の複雑さが増す一方で、市場投入までの時間も短縮しているため、テストスケジュールやテスト要件に対するプレッシャーも、ますます大きくなってきています。
 
本ウェビナーではテストプロセスにおける課題を検証、非効率性を改善する3つの方法を紹介し、NIが提供しているSystemLink(テスト環境管理・データ管理ソフトウェア)による、テストシステム管理や計測データ管理のデモンストレーションを交えながら 最適解を提案します。
 
アジェンダ(セミナー30分+質疑応答15分)
  • 自動テストで頻繁に取りざたされる課題
  • 複雑なテストコンフィグレーションの管理にかかるオーバーヘッドを削減
  • 運用データから得られる​インサイトを基に、​コストを最適化​
  • エラーの根本原因の分析にかかる時間を短縮​
  • 質疑応答(申し込み時に質問をお送りください。)
 
 
注記:競合他社の方の参加はお断りさせていただきます。予めご了承ください。