NI Модульные измерительные решения YEA Engineering

 

11 июня, 10-00, длительность семинара 1 час

10:00 AM – 11:00 AM

(GMT+03:00) Moscow, St. Petersburg, Volgograd

 
Обзор новых контрольно-измерительных приборов и систем для полупроводниковой промышленности 11 июня, 10-00, длительность семинара 1 час
 
Программа онлайн семинара:
 
  1. Обзор новых источников-измерителей (SMU) c ПЛИС – сочетание высокоточного источника питания и измерителя, гибкая система PID регулирования различных параметров, таких как режим вывода, время апертуры, диапазон силы тока и время отклика
 
  • Обзор аппаратной архитектуры многоканальных источников-измерителей
  • Обзор и демонстрация программного обеспечения NI InstrumentStudio, набор разработчика для проектирования многоканальных высокоточных измерительных систем
  • Источники-измерители YEA Engineering для высоковольтных измерений
 
  1. Обзор генераторов/анализаторов цифровых последовательностей NI PXIe-6570/71 для многоканальных систем. Специализированное программное обеспечение NI Digital Pattern Editor.
 
  1. ВЧ/СВЧ решения National Instruments для автоматизированных испытаний микроэлектроники.
 
  1. Многоканальные контрольно-измерительные комплексы для тестирования интегральных схем – новинки, технические решения, лучшие практики
 
  • Особенности проектирования и построения многоканальных автоматизированных испытательных систем
  • Технология аппаратных триггеров, методология синхронизации
  • Высокоскоростные измерения и управление частотой обновления
  • Программная оболочка Sinus для организации автоматизированных испытательных систем
 
 
Ответы на вопросы, демонстрация оборудования и обсуждение приложений со специалистами National Instruments и YEA Engineering.