NI Модульные измерительные решения YEA Engineering
11 июня, 10-00, длительность семинара 1 час
10:00 AM – 11:00 AM
(GMT+03:00) Moscow, St. Petersburg, Volgograd
Обзор новых контрольно-измерительных приборов и систем для полупроводниковой промышленности
11 июня, 10-00, длительность семинара 1 час
Программа онлайн семинара:
- Обзор новых источников-измерителей (SMU) c ПЛИС – сочетание высокоточного источника питания и измерителя, гибкая система PID регулирования различных параметров, таких как режим вывода, время апертуры, диапазон силы тока и время отклика
- Обзор аппаратной архитектуры многоканальных источников-измерителей
- Обзор и демонстрация программного обеспечения NI InstrumentStudio, набор разработчика для проектирования многоканальных высокоточных измерительных систем
- Источники-измерители YEA Engineering для высоковольтных измерений
- Обзор генераторов/анализаторов цифровых последовательностей NI PXIe-6570/71 для многоканальных систем. Специализированное программное обеспечение NI Digital Pattern Editor.
- ВЧ/СВЧ решения National Instruments для автоматизированных испытаний микроэлектроники.
- Многоканальные контрольно-измерительные комплексы для тестирования интегральных схем – новинки, технические решения, лучшие практики
- Особенности проектирования и построения многоканальных автоматизированных испытательных систем
- Технология аппаратных триггеров, методология синхронизации
- Высокоскоростные измерения и управление частотой обновления
- Программная оболочка Sinus для организации автоматизированных испытательных систем
Ответы на вопросы, демонстрация оборудования и обсуждение приложений со специалистами National Instruments и YEA Engineering.