기술 연설  |  오후 프로그램 (기술 연설)

반도체산업이 고성능, 고효율, 그리고 대량 생산 중심으로 발전함에 따라, 정확하고 신뢰할 수 있는 테스트 및 계측 기술의 중요성이 더욱 커지고 있습니다. NI 는 이러한 변화에 맞춰 모듈형 계측기, 자동화 테스트 솔루션, 데이터 분석 기술을 결합하여 반도체 개발과 생산 전 과정에서 최적의 환경 제공해 드립니다. 최신 RF 및 DC 측정 기술을 결합한 NI 의 계측 솔루션을 통해 NI 와 함께 반도체 혁신을 시작해 보십시오.

Ethan Niu, NI

광대역폭 전력 장치에는 정확한 수명 예측을 위한 새로운 동적 테스트 방법이 필요합니다. DGS, dHTGB, DRB 등의 테스트 방법에 대한 개요를 확인하고 SiC MOSFET의 과제와 실행에 대해 알아볼 예정입니다. 아울러 최신 산업 표준에 따라 SiC 및 GaN 파워 모듈을 테스트하는 방법과 자격 기준을 충족시키는 실용적인 정보와 인사이트를 드릴 예정입니다.

성웅용 이사, NI

반도체 양산 테스트에서 NI ATE 솔루션의 활용 방안을 제시하고, NI 플랫폼을 활용한 양산 테스트 사례들을 살펴봅니다. 고성능 테스트와 데이터 분석을 가능하게 하는 NI 소프트웨어를 소개하며, ATE Core 및 STS 플랫폼을 통해 생산 효율성과 품질을 극대화하는 방법을 소개합니다.

양종근 부장, NI

NI SDR 플랫폼은 아이디어를 신속한 프로토타입 시스템으로 전환하는 데 뛰어난 유연성을 갖추고 있어, 과학자와 엔지니어는 이를 활용하여 관련 혁신적인 개념과 기술 솔루션을 빠르게 검증할 수 있습니다.
NI의 핵심 기술 투자가 6G 비전을 지원하고, 전 세계 과학자들과의 협력을 통해 6G 프로토타입 검증을 진행함으로써, 우리는 6G 혁신을 개념에서 현실로 옮기고 6G 시대의 도래를 가속화하는 데 전념하고 있습니다.

Marcus Unger | NI

본 발표에서는 그 동안 라치텍에서 다양한 과제 수행하며 활용했던 USRP 활용 방안 및 다양한 UseCase와 주요 오픈소스에 대한 소개를 진행하고자 합니다.
관련하여, USRP를 사용하여 LTE / 5G NR SA End to End 시스템 구축 예제 소개, GNURADIO 개발 환경 구축 및 활용 예제, 오픈 소스 기반 드론 탐지 시스템 등에 대하여 함께 소개하겠습니다.

유환석 대표 | Rachtec