>>Download Agenda Rahman Jamal Business and Technology Fellow, National Instruments | Omid Sojoodi Vice President, R&D for Application and Embedded Software, National Instruments |
Mittwoch, 9:30 - 10:45 Uhr Donnerstag, 9:00 - 10:00 Uhr Lassen Sie sich von Entscheidungsträgern und Vordenkern aus der Industrie inspirieren, die sich zu künftigen Branchentrends aus den Bereichen Automotive, Halbleitertechnik, Luft- und Raumfahrt sowie Ausbildung und Lehre äußern. Erfahren Sie von Fachkollegen, wie diese mit neuesten NI-Technologien ihre Herausforderungen bewältigen konnten und profitieren Sie von deren Einblicken und unseren Erkenntnissen, die wir Ihnen auf der VIP-Bühne präsentieren. Mittwoch, 24. Oktober 2018Skills Development - Software EngineeringOptimieren Sie Ihre Arbeitsabläufe von der ersten Idee einer Applikation bis hin zur langfristigen Wartung Ihrer Systeme. Erfahren Sie in diesem innovativen neuen Format von langjährigen LabVIEW-Entwicklern, Bereichsexperten und NI-Mitarbeitern, wie Sie Anforderungen richtig definieren, automatisch verfolgen und daraus Applikationen erstellen. Lernen Sie verschiedene Herangehensweisen kennen, um Ihre Software – automatisiert und standardkonform – zu testen. Erleben Sie, wie sich der komplette Entwicklungsprozess mit Continuous-Integration-Ansätzen komplett automatisieren lässt, um Fehler zu vermeiden und wiederkehrende manuelle Prozesse zu erleichtern. Am zweiten Tag gibt es Workshops zu den zwei Themenschwerpunkten Requirements und Continuous Integration. 08:30 | Registrierung | 09:30 | Keynote | 10:45 | Kaffeepause / Besuch der Ausstellung | 11:15 | Anforderungen – Erfassen, Verfolgen und Umsetzen Norbert Brand, National Instruments
Oliver Wachno, Bürkert Werke GmbH & Co. KG
Peter Emmenegger, Emmenegger Engineering GmbH
Marcus Schram, Konrad GmbH
Ralf Taraschewski, kumkeo GmbH | 12:45 | Mittagspause / Besuch der Ausstellung | 14:30 | Softwaretest – Werkzeuge, Normen und andere Herausforderungen
Stefan Kissel, National Instruments
Peter Bokor, IncQuery Labs
Michael Kollmetz, MBDA Deutschland GmbH | 16:00 | Kaffeepause / Besuch der Ausstellung | 16:30 | Continuous Integration – Automatisieren Sie den Test, die Erstellung und die Verteilung Ihrer Applikationen Lorenz Casper, National Instruments
Sven Petersen, S.E.A. Datentechnik GmbH
Jörg Hampel, Hampel Software Engineering
Romano Renelt, NXP Semiconductor Austria Denis Grgic, NXP Semiconductor Austria | ab 18:00 | Get-Together | |
Automotive Test & ValidationIn diesem zweitägigen „Automotive Test & Validation“ geht es um zwei große Trends in der Automobilindustrie. Wir widmen uns dem autonomen Fahren sowie den damit einhergehenden neuen Herausforderungen in den Bereichen ADAS und V2X-Kommunikation. Außerdem betrachten wir das Thema Elektrifizierung, natürlich ebenfalls aus dem Blickwinkel des Testens, angefangen beim Design bis hin zur Produktion. 08.30 | Registrierung | 09:30 | Keynote | 10:45 | Kaffeepause / Besuch der Ausstellung | 11:15 | Die Automobilindustrie verändert sich nicht erst jetzt. Sie hat sich bereits verändert.
Daniel Riedelbauch, National Instruments The automotive industry is no longer singularly focused on building cars. Now, engineers are leveraging the latest trends in electrification, V2X, and ADAS to provide mobility services that make it easier for both humans and goods to travel. Come hear from industry leaders to see how we can work together to build and test the vehicles of the future. | 12:00 | Herausforderungen bei elektrischen Prüfungen nach LV 124/LV 148 am Beispiel von Lidar (EN)
Andreea Solomon, WKS Informatik GmbH
Frank Polziehn, Valeo For autonomous driving, validation is one of the most critical aspects car manufacturers face. LV124 & LV148 are some of the most important norms to fulfill. The biggest challenges are the complex simulation of vehicle power supplies curves, the simulation of fieldbuses and the monitoring of signals | 12:45 | Mittagspause / Besuch der Ausstellung | 14:30 | Anbindung, Montage und Test von Fahrzeugkameras für aktive Sicherheitssysteme
Michael Konrad, Konrad Technologies | 15:15 | LTE-V im Test – Ein alternativer Kommunikationsstandard für V2X- und ADAS-Anwendungen
Axel Meinen, S.E.A. Datentechnik GmbH LTE-V and 802.11p as a standard for direct communication between vehicles and V2X applications are discussed throughout the world.
Based on the NI SDR Technology and S.E.A.'s deep know-how in RF and testing this presentation will highlight test tools for deep LTE-V, V2X and ADAS testing. | 16:00 | Kaffeepause / Besuch der Ausstellung | 16:30 | Autonomes Fahren verlangt nach universellen Testlösungen mit einer Skalierung von NF über 5G bis zu 80 GHz Radar Test
Markus Solbach, Ludwig Mair, Noffz Technologies Radarsensoren, intelligente Antennensysteme sowie Hochleistungs-Controllereinheiten sind Kernelemente für das autonomes Fahren. Zum Testen dieser komplexen Produkte sind spezielle Testkonzepte anzusetzen, die bei NOFFZ kontinuierlich in Entwicklung sind. | 17:15 | Effiziente Restbussimulation in komplexen Automotive-Elektronik-Testprojekten
Dr. Björn Butting, AKKA Deutschland GmbH Die Validierung neuester „High-Performance Computing“ Steuergeräte basierend auf der AUTOSAR Technologie erfordert einen immer größeren Aufwand zur Simulation einer geeigneten Testumgebung. Neue Sicherheitstechnologien bei der AUTOSAR Classic Platform (4.x) und zukünftige serviceorientierte Fahrzeugarchitekturen bei der AUTOSAR Adaptive Platform stellen die Testbereiche vor neue Herausforderungen. AKKA entwickelt mit PROVEtech:RBS eine effiziente und performante Lösung zur Verwendung mit National Instruments VeriStand für hochkomplexe Restbussimulation im Automobilbereich. | ab 18:00 | Get-Together | |
Academic TeachingWie wird Theorie anschaulich vermittelt? Wie wird das Erlernte für Studenten relevant? Diese Fragen stehen im Vordergrund der Vortragsreihe Academic Teaching mit dem Thema „Education of the Next Engineering Generation“. Zusammen mit Lehrenden von Universitäten und Hochschulen, Vertretern aus der Industrie und Experten von National Instruments spannen wir den Bogen von neuen NI-Technologien über praktische Beispiele aus der Lehre bis hin zur Diskussion über die Frage „Was muss ein Student können, um erfolgreich in den Beruf zu starten?“. Erfahren Sie anhand von Beispielen, wie ganze Studiengänge attraktiver gestaltet, Studenten auf das zukünftige Arbeits- und Forschungsleben vorbereitet und die enge Zusammenarbeit mit der Industrie umgesetzt werden können. Abgerundet wird dieser Track mit dem Vortrag von Professor Eggers, der wieder einmal anschaulich und mitreißend darlegen wird, wie Lehre mit Experimenten spannend gestaltet werden kann. 08:30 | Registrierung | 09:30 | Keynote | 10:45 | Kaffeepause / Besuch der Ausstellung | 11:15 | Hürden beim projektbasierten Lernen mit dem neuen NI ELVIS III überwinden (EN)
Nancy Dib, National Instruments Erfahren Sie, wie wir Sie bei der Vermittlung von Konzepten der Mechatronik, Mess-, Elektro-, Regelungs- und Nachrichtentechnik mit Lösungen unterstützen, die die Zufriedenheit der Studierenden verbessern, Akkreditierungsrichtlinien entsprechen und dem Fachbereich Zeit sparen. Nutzen Sie diese Möglichkeit, NI ELVIS III kennenzulernen und für sich zu evaluieren. | 12:00 | Enhancing Student Learning with Digital Badges
Fabian Wehnekamp, National Instruments | 12:45 | Mittagspause / Besuch der Ausstellung | 14:30 | Einführung in die Zustandsüberwachung von Maschinen mittels Vibrations- und Schallmessungen anhand von praktischen Beispielen
Prof. Georg Eggers, Hochschule München Bei der Zustandsüberwachung werden Vibration oder Schall zur Erkennung von Verschleiß ausgewertet. Der Vortrag erläutert die grundlegenden Algorithmen samt Umsetzung in LabVIEW ebenso wie geeignete Sensoren und zeigt Demonstrationsaufbauten, an denen die Verfahren live vorgeführt werden. | 15:15 | Smarte Systeme vermitteln (Bachelor) – Smarte Ingenieure für die Industrie
Prof. Andreas Wendemuth, Dr.-Ing. Ingo Siegert, Otto-von-Guericke Universität Magdeburg An der Universität Magdeburg wird ein Bachelor-Studiengang Informationstechnik durchgeführt, der Fachkräfte in „Smarten Systemen“ praktisch und projektorientiert ausbildet. Erfahrungen bei der Ausgestaltung des Studienganges und der Einbeziehung von NI-Technologie in die Ausbildung werden vorgestellt. | 16:00 | Kaffeepause / Besuch der Ausstellung | 16:30 | Kompetenzentwicklung von Studierenden im Rahmen der Kooperation zwischen FH Joanneum und NXP Austria
Thomas Messner, FH Joanneum
Wolfgang Rominger, NXP Semiconductor Austria Einarbeiten von Hochschulabsolventen ist oft ein kostenintensiver Prozess. Die FH JOANNEUM (LabVIEW Acadamy) und NXP Austria (LabVIEW Center of Excellence) unterstützen junge Talente, ihre erlernten Kompetenzen weiterzuentwickeln um den Übergang zwischen Ausbildung und Beruf zu verbessern. | 17:15 | Paneldiskussion: Business Meets Teaching
Wolfgang Rominger, NXP Semiconductor Austria
Michael Konrad, Konrad Technologies
Prof. Andreas Wendemuth, Otto-von-Guericke Universität Magdeburg
Thomas Messner, FH Joanneum Fabian Wehnekamp, Heiner Illig, National Instruments Ob bei der Fertigung autonomer Fahrzeuge, intelligenter Systeme oder Halbleiter, Forschung und Industrie erweitern die Grenzen des technisch Möglichen. Studenten müssen darauf vorbereitet werden, um mithalten zu können. Professoren, Geschäftsführer und Engineering Manager diskutieren die unterschiedlichen Erwartungen von Universitäten und Industrie an die Ingenieursausbildung und erörtern, wie eine enge Zusammenarbeit aussehen könnte. | ab 18:00 | Get-Together | |
Semiconductor TestWenn jedes Gerät mit mehr RFICs und MEMSs ausgestattet wird, sind zusätzliche Sensor- und RF-Tests nötig. Dabei sollen getätigte Investitionen und eine optimale Testabdeckung gewahrt werden – am besten mit einer Messplattform, die vom Labor über die Charakterisierung bis in die Halbleiterproduktion skaliert. 08.30 | Registrierung | 09.30 | Keynote | 10:45 | Kaffeepause / Besuch der Ausstellung | 11:15 | Aktuelle Trends und neue Produkte für den Halbleitertest Christian Spiß, Vanessa Blumenstein, National Instruments Welche Themen beherrschen den Halbleitertest im Jahr 2018? Wir zeigen Ihnen aktuelle Trends und Lösungsansätze. Erfahren Sie außerdem, welche neuen Produktentwicklungen Ihnen den RF- und Mixed-Signal-Test im Labor und der Produktion vereinfachen. | 12:00 | Neue Herangehensweise in der Component Verfication - Ein Automatisierungskonzept für die Laborumgebung (EN)
Thorsten Bucksch, Infineon Technologies AG Component Verification has to ensure device robustness and the consistency with the customer data sheet. The ePower automation concept provides fast characterization feedback combined with the capability to generate statistical data in a lab environment. | 12:45 | Mittagspause / Besuch der Ausstellung | 14:30 | Automatisierungs-Framework für Labormessungen zur Post-Silizium-Verifikation von Automotive Sensor SoCs (EN)
Thomas Thurner, Alexander Magnes, Infineon Technologies AG The given manifold of high complexity mixed signal sensor SoC products to be verified by Infineon ATV SC Graz requires for a flexible but powerful automated measurement framework. Throughout this talk we will outline the concept and implementation of our developed Lab Automation Framework. | 15:15 | Sensortest für ADAS – Designvalidierung von ASIL-D-Chips
Frank Heidemann, SET GmbH Advanced Driver Assistance Systems (ADAS) require the fusion of sensor data and therefore specialized chips and testing solutions. Furthermore, simulation data and real-time fault insertion need to be integrated into the design validation of ASIL D Chips. | 16:00 | Kaffeepause / Besuch der Ausstellung | 16:30 | Die nächste Generation der Analyse dynamischer Signalverläufe
Michael Weber, Texas Instruments Den Zuhörern wird in diesem Vortrag ein Analyse Toolkit in LabVIEW vorgestellt. Der Anwendungsbereich reicht von extrem genauer Analyse dynamischer Signalverläufe, über deren Einbindung in eine automatisierte Messumgebung, bis hin zu einer einzigartigen Methodik des Real-Time Debuggings, welche die Möglichkeiten des Benutzers auf ein neues Level hebt. | 17:15 | Weise Worte: Erkenntnisse aus dem Einsatz des NI Semiconductor Test Systems in der Produktion (EN)
Banukumar Murugesan, Tessolve Semiconductor Pvt. Ltd. With 1400+ employees, Tessolve enables customers a faster time-to-market by offering expertise in the areas of Semiconductor and Systems Design, Test & Product Engineering, HW development, and manufacturing supply chain under one roof. Tessolve is here to share the Words of Wisdom, Lessons Learned. | ab 18:00 | Get-Together | |
Data ManagementBig Analog Data - seit Jahren müssen wir mit stetig steigenden Datenmengen aus zunehmend vernetzten Datenquellen arbeiten. In der Vortragsreihe „Data Management“ beschäftigen wir uns mit diesen Entwicklungen, die NI R&D Abteilung, Alliance Partner und Kunden besprechen aktuelle Trends und technologische Neuerungen wie firmenweite Analyselösungen mithilfe nahtloser Integration in bestehende Systeme. Wir zeigen reale Kundenanforderungen aus der Automobilindustrie wie beispielsweise bei Daimler und Volkswagen für die Analyse von Testfahrten. 08.30 | Registrierung | 09.30 | Keynote | 10:45 | Kaffeepause / Besuch der Ausstellung | 11:15 | Vernetzte Datenflüsse: Das Beste aus allen Welten verbinden
Andreas Haub, National Instruments Die National Instruments Datenmanagement Plattform stellt unseren Kunden leistungsfähige Lösungen für den Zugriff und die Verwaltung der unterschiedlichsten Datenformate zur Verfügung. Mit den neuen Versionen des Jahres 2018 macht National Instruments es nochmals deutlich einfacher, die in der Plattform vorhandenen Bausteine auch in anderen Systemen zu verwenden. So wird es auch für Excel-Anwender möglich DataFinder für die Suche und Konvertierung von Daten einzusetzen. Dieser Vortrag beschreibt das Konzept und die Ziele hinter der Öffnung der Plattform für andere Applikationen. | 12:00 | DIAdem und DataFinder Server – Highlights der aktuellen Versionen
Walter Rick, National Instruments Explore the new features in DIAdem 2018, DataFinder Server 2018, and Analysis Server 2018, including ways to search DataFinder Server and new scripting languages supported in Analysis Server. Learn how these features help standardize data across teams, mine it for useful information, transform it with automated analysis, and deliver reports with insights. | 12:45 | Mittagspause / Besuch der Ausstellung | 14:30 | Automatisierte Analyse von Nutzfahrzeug-Straßendauerlaufdaten
Martin Winkler, measX GmbH & Co. KG
Mathias Harlfinger, Daimler AG Zur Erprobung und Optimierung ihrer Nutzfahrzeuge betreibt die Daimler AG eine Flotte von messtechnisch ausgestatteten Fahrzeugen. Die Trucks fahren im Dreischichtbetrieb rund um die Uhr verschiedene Streckenprofile ab und zeichnen diverse Daten auf, die automatisiert aufbereitet werden. | 15:15 | Vom CAN-Bus bis zur Data Management Software Suite bei Volkswagen
Holger Müller, Marco Krahmer müller+krahmer GmbH Für reale und simulierte Meßfahrten der Volkswagen AG zur Erfassung von Komfort-CAN-Signalen und Betriebsströmen entwickelte die müller+krahmer GmbH eine modulare, verteilte DIAdem-Applikation, die konfigurationsbasiert automatisch Daten erfaßt, analysiert und transferiert. | 16:00 | Kaffeepause / Besuch der Ausstellung | 16:30 | Testen in regulierten Umfeldern am Beispiel WLTP
Jan Jacob, Werum Software & Systems AG Regulierte Umfelder stellen hohe Anforderungen an Planung, Durchführung und Ergebnisverwaltung von Tests. Sehen Sie Software-Lösungen mit denen Kunden in Windkanälen diese Herausforderungen meistern, höhere Effizienz, Nachverfolgbarkeit und Reproduzierbarkeit Ihrer Ergebnisse erreichen. | 17:15 | DIAdem-Workshop: Mustersuche in Signalverläufen
Walter Rick, National Instruments | ab 18:00 | Get-Together | |
Automated MeasurementsWir zeigen, wie Ingenieure und Wissenschaftler mit softwaredefinierten, automatisierten Messsystemen reale Herausforderungen bewältigen. Lernen Sie unsere neueste Datenerfassungshard- und -software kennen und erfahren Sie mehr zu Trends und Technologien sowie deren Einfluss auf die Zukunft unserer Plattform. 08:30 | Registrierung | 09:30 | Keynote | 10:45 | Kaffeepause / Besuch der Ausstellung | 11:15 | Neue Technologien für Anwendungen zum Datenloggen – FlexLogger (EN)
Rares Curatu, National Instruments Electromechanical systems are becoming more complex to validate, so NI is innovating to ensure you can meet your exact test needs and adapt to future requirements. Take a peek under the hood, with NI’s R&D, and learn how NI is expanding its platform with FlexLogger, FieldDAQ, and data acquisition hardware to accelerate your software setup, increase your temperature and environmental thresholds, and improve your synchronization capabilities. | 12:00 | Introducing CompactRIO With NI-DAQmx (EN)
Michal Jadrny, National Instruments Have you used a CompactRIO or CompactDAQ controller in the past? If so, do not miss this session about the newest CompactRIO controller. Are you taking measurements or implementing a control algorithm? Do you need tight synchronization? This new controller can do it all! Learn how NI-DAQmx, LabVIEW FPGA, and TSN combine to make it possible. | 12:45 | Mittagspause / Besuch der Ausstellung | 14:30 | Erweiterung Ihrer Messgeräteplattform durch die SLSC-Architektur (EN)
Michael Hutton, National Instruments Hardware In today’s world of rapidly evolving technologies to stay ahead of innovation automotive companies need flexible and expandable test systems which can easily be changed to accommodate new requirements. This session will focus on the latest NI technologies for solving complex signal paths in hardware in the loop systems and will show how you can use NI hardware platforms in conjunction with the NI SLSC for simulating complex sensors and fault conditions. | 15:15 | Smarte Lösung für Mess- und Prüfanwendungen
Martin Müller, Querpunkt GmbH | 16:00 | Kaffeepause / Besuch der Ausstellung | 16:30 | Automatisierung eines Funktionsprüfstands für elektrische Wankstabilisatoren mit NI VeriStand
Michael Winter, IABG mbH
Sebastian Bultmann, ZF Friedrichshafen AG Vorgestellt wird das Automatisierungskonzept eines Prüfstands für elektrische Wankstabilisatoren. VeriStand dient als Plattform für eine Vector-basierte Automatisierung und der in Simulink entwickelten Regelung. Zur Echtzeitkommunikation wurde CANoe‘s FDX-Interface als Custom Device implementiert. | 17:15 | Kochen mit dem Thermomix ist einfach – Testen ist es nicht
Benjamin Tillmann, Vorwerk Elektrowerke Christian Pastucha, SET GmbH | ab 18:00 | Get-Together | |
Hands on NI Hardware and SoftwareTesten Sie unsere Hard- und Software, indem Sie sie selber ausprobieren oder bereitliegende Step-by-Step-Anleitungen nutzen. Profitieren Sie dabei von unseren Experten vor Ort, die Ihnen dabei helfen, erste Stolpersteine bei der Evaluierung aus dem Weg zu räumen, um so schnell einen guten Eindruck zu bekommen. Kommen Sie einfach vorbei, setzen Sie sich an einen freien Platz und legen Sie los.. Bitte beachten: Es gibt keine festen Vortragszeiten. Sie können jederzeit in den Hands-On-Raum und NI Hardware und Software testen. 08:30 | Registrierung | 09:30 | Keynote | 10:45 | Kaffeepause / Besuch der Ausstellung | 11:15 | Lernen Sie NI Hard- und Software kennen! Es gibt keine festen Vortragszeiten. Sie können jederzeit in den Hands-On-Raum und NI Hardware und Software testen. | | Hardware: | Software: - TestStand
- LabVIEW
- LabVIEW Real-Time
- LabVIEW FPGA
- LabVIEW NXG
- und mehr
| 12:45 | Mittagspause / Besuch der Ausstellung | 14:30 | Lernen Sie NI Hard- und Software kennen! Es gibt keine festen Vortragszeiten. Sie können jederzeit in den Hands-On-Raum und NI Hardware und Software testen. | | Hardware: | Software: - TestStand
- LabVIEW
- LabVIEW Real-Time
- LabVIEW FPGA
- LabVIEW NXG
- und mehr
| 16:00 | Kaffeepause / Besuch der Ausstellung | 16:30 | Lernen Sie NI Hard- und Software kennen! Es gibt keine festen Vortragszeiten. Sie können jederzeit in den Hands-On-Raum und NI Hardware und Software testen. | | Hardware: | Software: - TestStand
- LabVIEW
- LabVIEW Real-Time
- LabVIEW FPGA
- LabVIEW NXG
- und mehr
| ab 18:00 | Get-Together |
Donnerstag, 25. Oktober 2018Skills Development – Development of Distributed ApplicationsApplikationen werden aufgrund wachsender Anforderungen immer komplexer, sei es durch das Einbinden von verschiedenen Diensten und Services oder durch die Vielzahl an einzubindender Hardware. In unserem Track beleuchten wir zusammen mit Bereichsexperten, Anwendern und Partnern verschiedene Aspekte, die es bei der Entwicklung einer solchen Applikation zu beachten gilt. Dabei beginnen wir mit der neuesten Datenschutzrichtlinie, sprechen dann über das Thema Security und welche NI-Produkte hier zum Einsatz kommen könnten und gehen anschließend darauf ein, wie Sie den Informationsaustausch Ihrer verteilten Systeme IT-konform gewährleisten können. 08:30 | Registrierung | 09:00 | Keynote | 10:00 | Kaffeepause / Besuch der Ausstellung | 10:30 | Neuigkeiten zur NI-Software-Roadmap
Lorenz CAsper, National Instruments | 11:15 | Gesetzliche Aspekte der normgerechten Entwicklung
Oliver Wachno, Bürkert Werke GmbH & Co. KG Neben expliziter Kundenanforderungen liegen für Entwicklungsprojekten in der Regel auch implizite in Form von zu erfüllenden allgemeinen Vorschriften vor.
Eine kurze Beleuchtung am Beispiel einiger gängier Vorschriften. | 12:00 | Mittagspause / Besuch der Ausstellung | 13:30 | LabVIEW NXG Web Module: Entwicklung webbasierter Benutzeroberflächen
Josef Eiswirt, measX GmbH Alona Maier, National Instruments Learn how to use the LabVIEW NXG Web Module to create engineering user interfaces that run on any modern browser without plug-ins or installers. Quickly visualize your data from distributed systems through drag-and-drop engineering widgets, intuitive communication mechanisms, and secure hosting all based on industry-standard technologies. | 14:15 | NI-Funktionen für das Erstellen verteilter webbasierter Anwendungen
Andreas Kreiseder, National Instruments Do you have LabVIEW applications that you want to share with other Windows machines but aren't sure how to efficiently deploy them? At this session designed for developers, learn about best practices for building and distributing componentized LabVIEW applications and explore the new LabVIEW NXG and NI package management technologies to help make this problem more approachable. | 15:00 | Kaffeepause / Besuch der Ausstellung | 15:30 | Kommunikationstechnologien im Kontext von IIoT und Cloud-Diensten
Stefan Kissel, National Instruments | 16:15 | Migration – Verbesserung durch Veränderung Falk Wurster, Karsten Dallmeyer, Vikings Software GmbH Never change a running system ist nicht mehr zeitgemäß. Etablierte Prozesse werden heute durch gezielte Migration kontinuierlich gepflegt. Jede Veränderung bietet die Chance zur Verbesserung. Migrationsängste, Ansätze und Beispiele für erfolgreiche Migration werden in dieser Präsentation beleuchtet. | 17:00 | Ende der Veranstaltung |
Automotive Test & ValidationIn diesem zweitägigen Track „Automotive Test & Validation“ geht es um zwei große Trends in der Automobilindustrie. Wir widmen uns dem autonomen Fahren sowie den damit einhergehenden neuen Herausforderungen in den Bereichen ADAS und V2X-Kommunikation. Außerdem betrachten wir das Thema Elektrifizierung, natürlich ebenfalls aus dem Blickwinkel des Testens, angefangen beim Design bis hin zur Produktion. 08:30 | Registrierung | 09:00 | Keynote | 10:00 | Kaffeepause / Besuch der Ausstellung | 10:30 | Schnellere Markteinführung mit optimierten Ansätzen für Antriebsstrangtests von Elektrofahrzeugen
Daniel Riedelbauch, National Instruments OEMs and Tier 1’s are currently in a race to get their EV platforms to market and capture early market share. Along with this comes a host of problems for test engineers as they have to work the constantly evolving test units and requirements. Learn how an open, platform-based approach can help you keep up with fast design iterations while still maximizing test coverage and product quality. | 11:15 | Lebensdauertest von Invertern für den Antriebsstrang in Elektrofahrzeugen unter Verwendung simulierter Motoren
Michael Rost, IRS Systementwicklung GmbH Die auf NI RIO basierende Artificial-E-Machine von IRS kann für mehrere parallel und kontinuierlich zu prüfende Inverter einen realen Betrieb einschließlich realistischem Batteriestrom und Rekuperation kostengünstig simulieren - bei nur geringer Leistungsaufnahme aus dem Netz. | 12:00 | Mittagspause / Besuch der Ausstellung | 13:30 | Entwicklung und Aufbau eines Prüfstands für Fahrzeug-Starter-Generatoren
Thomas Mertke, Bertrandt Ingenieurbüro GmbH | 14:15 | Intelligentes Loggen von Signalen in der Entwicklung von Komponenten für die Elektromobilität
Nils Dornblut, Josef Hiermeier, Innofas GmbH Die NI CompactRIO-Plattform bietet leistungsfähige Hardware, integrierten FPGA und viele I/O-Optionen. Der Vortrag zeigt Technik, Spezifikationen sowie Grenzen und geht auf die Programmierung mit LabVIEW anhand eines innovativen eventbasierten Datenloggers zum Test von Automotive Komponenten ein. | 15:00 | Kaffeepause / Besuch der Ausstellung | 15:30 | Testen von Batterien für den Antriebsstrang in der Fertigung
Maurus Bien, Bosch Rexroth AG Vorstellung des Funktionsprinzip eines End-of-Line Prüfstandes in der Produktion einer Batterie für Fahrzeuge.
Die Batterie wird zur Prüfung mit einer Leistung von bis zu 4 MW be- und entladen. Die mittels CAN Bus mit der cRIO verbundende Batterie überwacht diesen Vorgang und wertet ihn aus. | 16:15 | Validierungs-Test von Hochvolt-Antriebsbatterien für Elektrofahrzeuge
Philipp Miska, Berghof Automation GmbH Um zukünftige HV-Batterien für E-Fahrzeuge qualifiziert zu überprüfen, sind hochdynamische und performante Prüfsysteme notwendig. Entstanden ist ein Prüfstand der Fa. Berghof, welcher das Zusammenspiel von hoher Leistung und komplexer Kommunikation mit dem Prüfling (HiL) sicher bewältigt. | 17:00 | Ende der Veranstaltung |
Academic ResearchDas Ziel von Forschern und Wissenschaftlern ist es, neue – und manchmal unerwartete – Antworten zu finden, um die Natur besser zu verstehen und den Technologiefortschritt voranzutreiben. Ingenieure und Wissenschaftler nutzen NI-Produkte auf vielfältige und innovative Art und Weise, um Unbekanntes zu entdecken und zu erforschen, wodurch auch andere inspiriert werden und von bewährten Vorgehensweisen profitieren. Erfahren Sie, was möglich ist, wenn Sie die gewohnten Pfade verlassen und die Haltung des „So haben wir das schon immer gemacht“ bei aktuellen Projekten und Herausforderungen hinterfragen. Die in diesem Track vorgestellten Beispielen haben eines gemeinsam: Sie alle setzen auf den FPGA der NI-Hardware. Die Präsentationen von erfahrenen LabVIEW-Programmierern und Forschern zeigen, wie mit dem FPGA das volle Potenzial hochmoderner Technologien ausgeschöpft werden kann, so z. B. beim Neutrinoexperiment KArlsruhe TRItium Neutrino (KATRIN) mithilfe hochpräziser Motorsteuerung, bei der präzisen Synchronisierung von Detonationen in einer Turbine oder bei der Echtzeitüberwachung einer Lasertherapie der Retina. 08:30 | Registrierung | 09:00 | Keynote | 10:00 | Kaffeepause / Besuch der Ausstellung | 10:30 | Speckle-Bildgebung in Echtzeit für die gesteuerte retinale Photokoagulation
Katharina Bliedtner, Medizinisches Laserzentrum Lübeck Dynamic speckle are captured during laser coagulation of the retina using a CMOS camera with a frame rate up to 1kHz. Speckle evaluation is performed on the FPGA of the NI PCIe-1473R to calculate feedback values which correlate to the thermal induced tissue motion and thus the achieved damage. | 11:15 | „Rotating Detonation Engine“- Prüfstand auf Basis eines MXI-Express-Chassis – Vom Konzept zur Prüfstandsoftware
David Holst, Technische Universität Berlin Der Beitrag behandelt die Entwicklung eines RDE Prüfstands vom Konzept bis zur Software. Die finale Lösung steuert die gesamte Abfolge hochfrequenter Detonationsversuche vom Füllprozess bis hin zur Datenerfassung mit 0,5 MHz. Das MXI Chassis bietet hierbei durch den FPGA die notwendige Flexibilität. | 12:00 | Mittagspause / Besuch der Ausstellung | 13:30 | Sensor Fusion in Life Science: Echtzeitverfolgung biologischer Vorgänge mit Nanometer-Auflösung
Frank Mieskes, Ludwig Maximilians Universität München Durch den Einsatz eines CompactRIO-Systems sind wir in der Lage mittels „Sensor Fusion“ ein Maximum an Daten zu erfassen und ich Echtzeit zu verarbeiten. Dies ermöglicht es uns biologische Systeme auf molekularer Ebene mit hoher Präzision zu untersuchen. | 14:15 | Sie wollen ganz sichergehen? Verwandeln Sie Software in Hardware anschaulich erklärt am Beispiel des Neutrinoexperiment KArlsruhe TRItium Neutrino (KATRIN) (EN)
Armen Beglarian, Karlsruhe Institut of Technology A LabVIEW-FPGA based custom solution as a smart interlock for emergency retraction from hazardous environment. It works as a pure hardware and is capable of reacting even when system/software crash. | 15:00 | Kaffeepause / Besuch der Ausstellung | 15:30 | Kräfteüberwachung in Magnetspulen eines Fusionsexperiments
Alexander Sigalov, Claus-Peter Käsemann, Max-Planck-Institut Für den Schutz der Spulen in einem Fusionsexperiment wurde eine neue Kräfteüberwachung auf cRIO-Basis entwickelt. Dabei werden eine Matrixmultiplikation von 26x26 Elementen und die elliptischen Integralen für Plasmawirkung auf die Spulen in jedem Messzyklus in FPGA neu berechnet und ausgewertet. | 16:15 | Die Zukunft des Transportwesens – EPFLoop und Swissmetro treiben Hyperloop-Technologie voran (EN)
Denis Tudor, EPFLoop The EPFLoop Team has been created in September, 2017 by a group of passionate students, but in this moment the group has been extended, and approximately 50 students work hard for the future of transportation. Join us to bring the future of transportation in Switzerland! | 17:00 | Ende der Veranstaltung |
Aerospace & DefenseLuft- und Raumfahrttechnologie wird immer komplexer und die Fristen für die Bereitstellung von Testsystemen immer kürzer. Das erfordert intelligentere Lösungen für eine schnelle Systemintegration und die Unterstützung älterer Programme. Mit flexibel anpassbaren Hard- und Softwareplattformen lassen sich Testsysteme zügig entwickeln und zertifizieren, neue Technologien einbinden und die Gesamtprüfkosten senken. 08:30 | Registrierung | 09:00 | Keynote | 10:00 | Kaffeepause / Besuch der Ausstellung | 10:30 | Best Practices für den Entwurf eines automatisierten Prüfsystems
Christian Gindorf, National Instruments Angesichts von Produktlebenszyklen, die auf mehrere Jahrzehnte ausgelegt sind, stehen Prüfingenieure in der Luft- und Raumfahrt vor der besonderen Herausforderung, Testsysteme zu entwickeln, die häufig ihre eigene Karriere überdauern. In dieser Präsentation stellen wir Ihnen drei Best Practices beim Entwurf eines automatisierten Prüfsystems vor. Insbesondere werde bewährte Vorgehensweisen bei der Entwicklung hierarchischer Testsoftware, Methoden für den wirksamen Einsatz der neuesten handelsüblichen Standardtechnologien (COTS) sowie Tools für die Obsoleszenzplanung untersucht. Nach Teilnahm an dieser Präsentation können Sie robuste und zukunftssichere automatisierte Prüfsysteme besser entwickeln. | 11:15 | Aerospace-HIL in acht Wochen
Frank Heidemann, SET GmbH Projektdruck, technische Herausforderungen und Zeitmangel sind die stetigen Begleiter heutiger Aerospace HiL Projekte. Mit einem standardisierten HiL Ansatz unter Verwendung der neuen NI-SLSC Signalkonditionierung ist es nun möglich, diese Projekte innerhalb von 8 Wochen – von der Planung bis zum System - betriebsfertig zu liefern. | 12:00 | Mittagspause / Besuch der Ausstellung | 13:30 | Thermografische Inspektion von Klebefugen im Flugzeugbau mit LabVIEW (EN)
Marc Hill, ZeMA This work shows how LabVIEW was used for automated detection of defects in adhesive joints by active thermography in aircraft manufacturing. A LV RT target acquires, processes and analyses images of a thermographic camera attached to an industrial robot. | 14:15 | GSM-Passiv-Radar mit NI-USRP-RIO-Mehrkanal-Empfangssystem
Matthias Mandt, Fraunhofer Institute for Communication Auf der Basis der NI USRP Rio 2954 hat das Fraunhofer FKIE einen Nachfolger für das GSM Passiv Radar Empfangssystem ECHSE 2 aufgebaut. In dem Vortrag werden Hardware- und Softwarekonzept des Empfangssystems sowie erste Ergebnisse der GSM Passiv Radar Anwendung vorgestellt. | 15:00 | Kaffeepause / Besuch der Ausstellung | 15:30 | Softwaretest – Tools, Normen und andere Herausforderungen
Sven Tanneberger, Ralf Taraschweski, kumkeo GmbH Übersteigt die Kohlenwasserstoffkonzentration in einer Müllverbrennungsanlage oder der Lackierstraße eines Automobilherstellers die untere Explosionsgrenze, besteht unmittelbare Gefahr von Leib und Leben. Zur Messung dieser Konzentrationen wird auf gemäß DIN EN 50271/ DIN EN 61508 zugelassene Gaswarngeräte vertraut. Erfahren Sie aus erster Hand, welche Herausforderungen es im Rahmen eines solchen Projektes zu meistern gilt und wie Sie sich auf ein solches Vorhaben optimal vorbereiten. | 16:15 | Addressing the Challenges of Multi-Channel Phase-Aligned RF Systems
Ezer Bennour, National Instruments Vortrag fällt leider aus. | 17:00 | Ende der Veranstaltung |
Business & Technology TrendsDie Vortragsreihe „Business & Technology Trends“ beleuchtet jedes Jahr wichtige Neuigkeiten und Weiterentwicklungen und gibt technologische Ausblicke rund um den Bereich automatisiertes Messen und Testen. Daneben stehen immer auch relevante Unternehmens- und Wirtschaftsaspekte im Fokus. 08:30 | Registrierung | 09:00 | Keynote | 10:00 | Kaffeepause / Besuch der Ausstellung | 10:30 | Lernen für Leadership 4.0 in der Zeitmaschine
Marco Schmid, Schmid Elektronik AG Wie positioniere ich mein industrielles KMU im Umfeld 2018+? Es braucht auf jeden Fall Neugier, Mut und Lernbereitschaft. Erleben Sie hautnah am Beispiel eines Öko-Rennens, wie die übliche Strategieperiode von 3 Jahren auf 6 Monate und ein Geschäftsjahr auf nur eine Woche schrumpft. | 11:15 | Neue Mitarbeiter effizient ins Team integrieren – Onboarding für Ingenieure
Wolfgang Rominger, NXP Semiconductors Austria
Lorenz Casper, National Instruments | 12:00 | Mittagspause / Besuch der Ausstellung | 13:30 | Mit Sensoren und Blockchain ins Internet der Dinge
Markus Haid, Hochschule Darmstadt Sensoren spielen eine zentrale Rolle auf dem Weg ins Internet der Dinge und sind Beschleuniger und Treiber einer jeden digitalen Transformation. Die vier Bereiche der Digitalisierung smarte Produkte, smarte Fabriken, Big Data und smarte Businessmodelle sind auf Sensorinformationen angewiesen. Die Vernetzung von Sensordaten mit auswertenden Applikationen beispielsweise über eine Cloud-Lösung sind daher notwendig. Eine zentrale Herausforderung der Digitalisierung ist das mangelnde Vertrauen ins Cloud-Computing. Um die Datenintegrität und Sicherheit zu gewährleisten könnte die Technologie der Blockchain und das sogenannte Smart Contracting eine Lösung sein. Über das Smart-Contracting könnte einer Applikation der Datenzugriff zugeordnet werden. Somit wäre eine sichere Datenübertragung realisiert. | 14:15 | Panel Discussion: Was leisten Fertigungsdaten für IoT und digitale Transformation? Joachim Hilsmann, measX GmbH & Co.KG Markus Solbach, NOFFZ Technologies Joachim Kurpat, KUNBUS GmbH Rahman Jamal, National Instruments | 15:00 | Kaffeepause / Besuch der Ausstellung | 15:30 | Wie Machine Learning und künstliche Intelligenz traditionelle Prüfstrategien in Frage stellen (EN)
Jiri Keptr, National Instruments We are at the verge of a revolution in the way computing is performed. Instead of logic algorithms machine learning and artificial intelligence are finding their way in self-driving cars and ADAS systems. From a testing perspective this poses several challenges in meeting safety standards like ISO 26262 as inputs and outputs are loosely correlated. In the presentation we will cover an introduction to machine learning, and provide guidance to help you prepare for this task | 16:15 | Mit der richtigen Prüfstrategie Produktentwicklung und Markteinführung beschleunigen (EN)
Augusto Mandelli, Robert Lee, National Instruments | 17:00 | Ende der Veranstaltung |
Hands on NI Hardware and SoftwareTesten Sie unsere Hard- und Software, indem Sie sie selber ausprobieren oder bereitliegende Step-by-Step-Anleitungen nutzen. Profitieren Sie dabei von unseren Experten vor Ort, die Ihnen dabei helfen, erste Stolpersteine bei der Evaluierung aus dem Weg zu räumen, um so schnell einen guten Eindruck zu bekommen. Kommen Sie einfach vorbei, setzen Sie sich an einen freien Platz und legen Sie los. Bitte beachten: Es gibt keine festen Vortragszeiten. Sie können jederzeit in den Hands-On-Raum und NI Hardware und Software testen. 08:30 | Registrierung | 09:00 | Keynote | 10:00 | Kaffeepause / Besuch der Ausstellung | 10:30 | Lernen Sie NI Hard- und Software kennen! Es gibt keine festen Vortragszeiten. Sie können jederzeit in den Hands-On-Raum und NI Hardware und Software testen. | | Hardware: | Software: - TestStand
- LabVIEW
- LabVIEW Real-Time
- LabVIEW FPGA
- LabVIEW NXG
- und mehr
| 12:00 | Mittagspause / Besuch der Ausstellung | 13:30 | Lernen Sie NI Hard- und Software kennen! Es gibt keine festen Vortragszeiten. Sie können jederzeit in den Hands-On-Raum und NI Hardware und Software testen. | | Hardware: | Software: - TestStand
- LabVIEW
- LabVIEW Real-Time
- LabVIEW FPGA
- LabVIEW NXG
- und mehr
| 15:00 | Kaffeepause / Besuch der Ausstellung | 15:30 | Lernen Sie NI Hard- und Software kennen! Es gibt keine festen Vortragszeiten. Sie können jederzeit in den Hands-On-Raum und NI Hardware und Software testen. | | Hardware: | Software: - TestStand
- LabVIEW
- LabVIEW Real-Time
- LabVIEW FPGA
- LabVIEW NXG
- und mehr
| 17:00 | Ende der Veranstaltung |
Skills Development Software Engineering - WorkshopAls Fortsetzung der Vortragsreihe „Skills Development Software Engineering“ wird es am zweiten Tag zu den zwei Themenschwerpunkten Requirements und Continuous Integration Workshops geben, bei denen Sie die Möglichkeit haben, die Diskussionen zu vertiefen und sich auszutauschen.
08:00 | Registrierung | 09:00 | Keynote | 10:00 | Kaffeepause / Besuch der Ausstellung | 10:30 | Evaluieren Sie das NI Requirements Gateway
Norbert Brand, National Instruments | 12:00 | Mittagspause / Besuch der Ausstellung | 13:30 | Modellgetriebene Entwicklung in der Praxis – Mit Methodik zu nachhaltigem LabVIEW-Code
Ralf Taraschewski, Sven Tanneberger, kumkeo GmbH. | 15:00 | Kaffeepause / Besuch der Ausstellung | 15:30 | Live-Demonstration von Arbeitsabläufen in einer automatisierten Software-Entwicklungsumgebung
Jörg Hampel, Hampel Software Engineering | 17:00 | Ende der Veranstaltung |
|
|