出展概要
世界を代表するマイクロエレクトロニクス国際展示会「SEMICON JAPAN」に今年も出展します。是非ご来場ください。(入場料無料・事前登録不要)
NIブースハイライト
出展展示会 | |
イベント会期 | 2018/12/12(水)~14(金)10:00~17:00 |
参加登録方法 | 当日登録制(入場無料) |
展示会場 | 東京ビッグサイト 交通アクセス |
展示ホール/小間番号 | 東展示棟Hall1 小間番号:1612 |
展示予定デモ
| | | NI STSを使用した半導体デバイスの製造テスト モジュール式計測システムをベースとした、高性能かつ柔軟性の高いNIの半導体ATE「NI STS」使用した、モバイル高周波PAのファンクションテストのデモを紹介予定です。テストヘッド一体型であるSTSは、デバイスのピン数や同測数などに応じて、サイズの異なる3種類のテストヘッドを選択できます。少ピン製品や製造ボリュームの小さい製品に最適なSTS T1、および、将来の増産に向けた拡張性を確保可能なSTS T2を展示します。 |
| | | 5G NRに対応するRFIC評価・テストソリューション
1 GHzの瞬時帯域幅を持つRF信号発生器・アナライザを統合したモジュール式RF計測器「 ベクトル信号トランシーバ (VST)」や、生産性の高いRF計測ソフトウェア「 NI-RFmx」を組み合わせて、第5世代移動通信 (5G) をはじめとした各種ワイヤレス通信規格に対応するRFICの評価・テストを行います。5Gでは、波形パラメータ (Numerology) やキャリアアグリゲーションの組合せの自由度が向上したため、テストエンジニアは爆発的に増加したテスト項目をどのようにカバーするか苦心しています。5G向けRFICのテストに、ボックス型計測器と比較して飛躍的に高速な計測データ転送が可能 ( 参考資料) なPXIを採用することで、膨大な評価項目を迅速にテストし、テスト品質やTime-to-Marketの目標達成に近づくことができます。 |
| | | ミックスドシグナルICの評価・テストソリューション
NIは、低コスト・多チャンネルのアナログI/O、振動・音響計測などに最適な高ダイナミックレンジI/O、高性能な ソースメジャーユニット (SMU)、ATEと同等の使い勝手でテスト開発が可能な デジタルパターン計測器などのモジュール式PXI計測器を提供しています。これらを組み合わせることで、必要な性能のミックスドシグナルICの評価・テストシステムを最小限のコストで柔軟に構築できます。 |
| | | PXI SMUを活用した柔軟で低コストな半導体パラメトリックテスタ NIの ソースメジャーユニット (SMU) に、今年5月にリリースされた最新の対話的計測ソフトウェア「 InstrumentStudio」を組み合わせて、非常に低コストな半導体パラメトリックテストシステムを構築できます。InstrumentStudioを使用すれば、プログラミング無しで基本的なDC計測を素早く進められます。また、微小電流計測に対応したSMU「 PXIe-4135」を使用すれば、10 fAの電流分解能で計測を行えます。さらに、 LabVIEWシステム開発ソフトウェアや PXIスイッチモジュールなどを組み合わせて、オープン・ショート計測などを含めたルーチン作業を自動化し、評価の生産性を高めることができます。 |