2018 NI 新世代電子與半導體量測技術論壇 新竹場

活動日期：2018/08/08
活動時間：08:30 – 16:35
活動地點：新竹喜來登大飯店3樓 (新竹縣竹北市光明六路東一段265號)
本活動不開放現場報名，報名成功乃以最後出席提醒信為準（請攜帶 QR code 以成功報到），報名時請完整輸入就職公司名稱/公司 mail

前言：

隨著互聯網時代來臨，許多裝置都混合了類比、數位以及射頻訊號，造成待測物測試複雜度越來越高，而所能容許的測試成本卻越來越低，因此自動化測試顯得日益重要。此次盛會邀請 Texas Instruments, Xilinx 等各方專家，介紹各種待測物與應用之最新自動化測試與量測方法，減少大家在量測上所花費之時間與成本。

本次活動特別詳細解析電子與半導體量測與測試所會面臨之各項挑戰，包含最新 5G NR 元件設計測試方案與實機展示，物聯網與穿戴式裝置最新測試技術與趨勢分享，以及 Xilinx 獨家解說如何利用 FPGA 加速建構更智慧的測試系統，更有業界專家進行晶片設計測試實務交流，絕對能助您克服各式專案量測難題。

我們將透過此次「新世代電子與半導體量測技術論壇」，與您分享最新市場趨勢以及實務經驗，衷心期望透過內容豐富的 14 個技術講座與超過 15 個最新現場實機展示帶您掌握市場脈動，助您縮短開發時程，加速產品上市！敬邀您前來共襄盛舉！(額滿即關閉報名系統)

活動好禮：

*主辦單位保留修改活動與獎品內容之權利

*本活動採預先線上報名並完成登錄手續，請勿偽造他人身份資料進行報名以免觸犯法律，主辦單位保留報名資格之最後審核權利

*若有任何疑問請 mail 至 event.nitw@ni.com

活動日期：2018/08/08

活動時間：08:30 – 16:35

活動地點：新竹喜來登大飯店3樓 (新竹縣竹北市光明六路東一段265號)

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2018 NI 新世代電子與半導體量測技術論壇新竹場

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