NIDays France 2018 - National Instruments

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Techniques de développement

8h30 - 9h00	Petit déjeuner et visite de l'exposition
9h00 - 10h30	Keynote du matin
10h30 - 11h00	Visite de l'exposition
11h00 - 12h00	Quoi de neuf dans LabVIEW 2018 et LabVIEW NXG ? Corentin LE NEZET - National Instruments Améliorez l’efficacité de vos workflows à l’aide d’outils dans LabVIEW 2018 qui simplifient l’intégration de systèmes et renforcent votre productivité. LabVIEW NXG vous permet de réaliser des tests plus intelligents en intégrant la configuration, l’automatisation et la visualisation de vos résultats au sein d’un même outil. Découvrez dans cette session les nouvelles fonctionnalités des deux versions de LabVIEW.
12h00 - 13h00	Module LabVIEW NXG Web : développer des interfaces utilisateurs Web et personnaliser vos WebVIs Thibault PAGET - National Instruments Apprenez à utiliser le module LabVIEW NXG Web pour créer des interfaces utilisateurs de conception qui s’exécutent sur n’importe quel navigateur et ne nécessitant pas l'installation de plugins. Visualisez rapidement les données de vos systèmes distribués à l’aide de widgets de conception de type glisser-déposer, de mécanismes de conception (communication) intuitifs et d’un hébergement sécurisé, qui sont basés sur des technologies standard de l’industrie.
13h00 - 14h00	Déjeuner et visite de l'exposition
14h00 - 15h00	Réutilisez votre code en tirant parti des VI malléables (niveau avancé) Olivier JOURDAN - SAPHIR \| QMT Group Dans LabVIEW 2017, les VI malléables intégrés vous permettaient de créer une première fois des VIs puis de les réutiliser avec n’importe quel type de données compatibles. tout en évitant les chutes de performances des données variant ou la complexité des classes abstraites. En 2018, ces VI deviennent plus puissants. Apprenez à créer des VIs malléables aussi flexibles que des fonctions LabVIEW intégrées.
15h00 - 16h00	Implémentation de vos propres fonctionnalités dans LabVIEW à l'aide du VI Scripting (niveau avancé) Paolo PEREIRA - National Instruments
16h00 - 17h00	Cocktail de clôture et finale de la coupe robotique sur l'exposition

Logiciels applicatifs

8h30 - 9h00	Petit déjeuner et visite de l'exposition
9h00 - 10h30	Keynote du matin
10h30 - 11h00	Visite de l'exposition
11h00 - 12h00	Déployer vos systèmes de test automatique plus rapidement à l’aide de TestStand Rojo RAKOTOHARISON - National Instruments TestStand fournit un framework ouvert, évolutif et flexible qui augmente la productivité des ingénieurs de test et les aide à relever les défis de test. Au cours de cette session, découvrez comment tirer parti de TestStand pour accroître l’efficacité de votre processus de développement de tests et réduire le coût total de possession. Familiarisez-vous avec l’environnement TestStand à travers de courtes démonstrations explorant les défis de tests les plus courants.
12h00 - 13h00	Améliorez l'efficacité opérationnelle avec SystemLink™ pour la gestion des systèmes distribués Thomas LEMIERE - National Instruments Découvrez dans cette session le logiciel SystemLink™ qui permet de connecter, déployer et gérer une flotte de systèmes de test et de mesure. Vous pourrez aussi comprendre comment centraliser la gestion des déploiements logiciels, la configuration des systèmes, la gestion de l’état et des performances des systèmes, la surveillance des séquences de tests ansi que la création de tableaux de bord dynamiques web.. SystemLink™ ou la surveillance à distance de bancs de test de roulements Frédéric BERNARD - Nerys Mathieu LAFARE - INOVSYS Du besoin client à la réponse technique ; mise en place de surveillance de plusieurs bancs d’essais répartis sur différents lieux géographiques avec remontée d’informations pour le pilotage des essais par INOVSYS et le suivi par le client final. Visualisation à distance de plusieurs bancs simultanément sans besoin d'accès direct sur les bancs, avec gestion d'alarmes complémentaires au banc d'essai. Les débuts de l’usine 4.0.
13h00 - 14h00	Déjeuner et visite de l'exposition
14h00 - 15h00	Découvrez les nouvelles fonctionnalités de la suite Data Management Software Tony TRAN - National Instruments Découvrez les nouvelles fonctionnalités de DIAdem 2018, DataFinder Server 2018 et Analysis Server 2018, y compris les nouveaux outils de recherche dans DataFinder Server et les nouveaux langages de script supportés dans Analysis Server. Vous apprendrez comment ces fonctionnalités facilitent la standardisation des données entre les équipes, comment extraire les informations utiles, les transformer à travers des analyses automatiques et générer des rapports éclairants.
15h00 - 16h00	Validation des systèmes physiques avec FlexLogger™ Pierre DENIS - National Instruments FlexLogger est le dernier logiciel applicatif de NI dédié à l’enregistrement des données, conçu pour facliter la validation des scénarios de test personnalisés, et ce sans programmation. Apprenez à acquérir et enregistrer des signaux mixtes, interfaçer des matériels, personnaliser les visualisations et étendre vos capacités d’analyse et de création de rapports dans DIAdem.
16h00 - 17h00	Cocktail de clôture et finale de la coupe robotique sur l'exposition

Test automatique et instrumentation

8h30 - 9h00	Petit déjeuner et visite de l'exposition
9h00 - 10h30	Keynote du matin
10h30 - 11h00	Visite de l'exposition
11h00 - 12h00	InstrumentStudio™ : le logiciel interactif pour les instruments modulaires au format PXI Houda LAHKIM BENNANI - National Instruments Découvrez dans cette session le logiciel InstrumentStudio, la nouvelle génération de faces-avant logicielles pour les instruments modulaires NI.
12h00 - 13h00	Modernisation du banc de test final des caissons double flux à l'aide de TestStand chez Atlantic Mathieu REYROLLE - Mesulog Suite à une étude détaillée du besoin, ATLANTIC a choisi NI TestStand pour mettre en place une solution flexible capable de gérer la grande diversité des produits sous test, leur validation et la traçabilité des essais. Cette présentation vous permettra de découvrir les solutions techniques retenues pour couvrir les différents besoins, comme la base de données de configuration produit, le contrôle visuel déporté à l’aide d’une tablette ou encore le pilotage manuel des équipements.
13h00 - 14h00	Déjeuner et visite de l'exposition

Test et validation temps réel

13h00 - 14h00	Déjeuner et visite de l'exposition
14h00 - 15h00	HIL et chambre d'essai : architectures matérielles et fonctionnement de NI VeriStand Eloïse RESTINI - National Instruments Lors de cette session, nous passerons en revue les éléments matériels et logiciels ainsi que les architectures nécessaires afin de réaliser des applications de chambre d’essais, HIL et d’enregistrement en temps réel. Nous détaillerons le fonctionnement de NI VeriStand, à savoir l’environnement, l’importation de simulations, l’enregistrement de données, la personnalisation FPGA ou temps réel et les méthodes de synchronisation des systèmes distribués.
15h00 - 16h00	Solutions P-HIL pour la simulation d’électronique de puissance avec NI et OPAL-RT Rémi DA SILVA - National Instruments François TEMPEZ - OPAL-RT Europe Afin de gagner en temps de développement, des solutions de simulation de circuits de puissance par FPGA à modification instantanée sont devenues une réalité grâce à l’alliance entre NI LabVIEW et OPAL-RT eHS. Venez découvrir les solutions et outils permettant de mettre au point un schéma électronique, de l’exécuter sur un matériel en quelques minutes, de l’inclure dans une chaine de puissance et de modifier ses paramètres en direct.
16h00 - 17h00	Cocktail de clôture et finale de la coupe robotique sur l'exposition

Radio logicielle et communication 5G

8h30 - 9h00	Petit déjeuner et visite de l'exposition
9h00 - 10h30	Keynote du matin
10h30 - 11h00	Visite de l'exposition
11h00 - 12h00	Surmonter les difficultés du test des matériels RF sub-6 GHz pour les applications 5G Romain DUVAL - National Instruments Apprenez-en davantage sur les défis qui surviennent en travaillant avec des signaux qui ont une numérologie flexible, une bande passante plus élevée et qui offrent de nombreuses possibilités de combinaisons d’agrégation de porteuses. Découvrez comment surmonter ces défis avec l’approche NI.
12h00 - 13h00	Utilisation des modulations spatiales avec une plate-forme de radio logicielle Massive MIMO dans le contexte de la 5G et de l’Internet des Objets François YVEN - INSA de Rennes Recherche menée par Maryline HELARD, Matthieu CRUSSIERE et Ali MOKH L’objectif de la session est de présenter nos premiers résultats sur la plate-forme Massive MIMO à base d’USRP RIO. Les techniques seront basées sur les modulations spatiales, orientées sur les objets connectés (IoT) et dans un contexte 5G.
13h00 - 14h00	Déjeuner et visite de l'exposition

Acquisition de données et contrôle/commande

8h30 - 9h00	Petit déjeuner et visite de l'exposition
9h00 - 10h30	Keynote du matin
10h30 - 11h00	Visite de l'exposition
11h00 - 12h00	Nouvelles technologies pour les applications d'enregistrement de données Bertrand ROUAMBA - National Instruments La complexité grandissante des systèmes électromécaniques les rend de plus en plus difficiles à valider. C’est pour cette raison que NI innove constamment pour s’assurer que vous pourrez répondre aux besoins précis de vos tests et vous adapter aux exigences futures. Découvrez comment NI étend sa plate-forme avec les logiciels FlexLogger, FieldDAQ et CompactRIO associé au driver NI-DAQmx pour accélérer la configuration de vos logiciels, augmenter vos températures de fonctionnement et le support de conditions environnementales, et améliorer vos capacités de synchronisation.
12h00 - 13h00	Découverte du nouveau contrôleur CompactRIO avec NI-DAQmx Benjamin COURTOIS - National Instruments Vous avez déjà utilisé un contrôleur CompactRIO ou CompactDAQ par le passé ? Ne manquez pas cette session consacrée au nouveau contrôleur CompactRIO. Vous effectuez des mesures ou implémentez un algorithme de contrôle/commande ? Vous avez besoin de capacité de synchronisation avancée ? Découvrez comment tout cela est rendu possible par l’association du NI-DAQmx, de LabVIEW FPGA, et de la technologie TSN.
13h00 - 14h00	Déjeuner et visite de l'exposition
14h00 - 15h00	Plate-forme reconfigurable de test d’étanchéité développée avec LabVIEW NXG Samuel GUESNE - Dam Group DAM fournit une plate-forme de test d'étanchéité pour la production industrielle (automobile ou autre). La plate-forme permet à nos clients de créer des séquences de test sans connaissances en informatique ou en automatisme. Grace à nos outillages interchangeables, il est possible de tester tout type de produit avec la même plate-forme. Nous fournissons aussi les outils de suivi de production et d’analyse des données. Pour concevoir cette plate-forme, nous avons mis en place une architecture innovante avec une interface web développée à l’aide de LV NXG. Notre machine est complètement autonome. Cela nous permet de réduire les coûts ainsi que réduire le temps de mise sur le marché.
15h00 - 16h00	*Mise en œuvre avancée de la technologie TSN (Time Sensitive Networking) avec le matériel NI* Antonin GOUDE - National Instruments Découvrez les bonnes pratiques pour implémenter la technologie Time Sensitive Network sur les contrôleurs FieldDAQ, CompactDAQ, CompactRIO et les contrôleurs industriels.
16h00 - 17h00	Cocktail de clôture et finale de la coupe robotique sur l'exposition

Surveillance conditionnelle et maintenance 4.0

8h30 - 9h00	Petit déjeuner et visite de l'exposition
9h00 - 10h30	Keynote du matin
10h30 - 11h00	Visite de l'exposition
11h00 - 12h00	NI InsightCM™ : logiciel applicatif clé en main pour la maintenance conditionnelle en ligne (en anglais) Lodovico MENOZZI - National Instruments Chaque année, les pannes d'équipements industriels coûtent des milliards d'euros à nos sociétés. Dans cette session, découvrez la solution NI InsightCM et comprenez comment elle peut aider les équipes de maintenance à accéder plus rapidement aux données critiques permettant de maximiser le temps de disponibilité des machines tournantes. C’est l'occasion aussi de découvrir tout l'écosystème de surveillance conditionnelle NI et des démonstrations de surveillance d'équipements déployés.
12h00 - 13h00	Système de surveillance temps réel de détection d'impacts pour pipeline Thierry ROMANET - Baker Hughes a GE Company Développement d'une architecture de calcul temps réel dédiée à la détection d'impact tiers sur des réseaux de pipelines de transport. Le produit est basé sur l'installation de capteurs acoustiques distribués le long du pipeline à surveiller (tous les 20 km environ). Le firmware embarqué sur la carte sbRIO détecte en temps réel des signatures transitoires tout en s'adaptant automatiquement aux variations de bruit de fond (écoulement). Celles-ci sont envoyées vers un superviseur central qui se charge de valider l'alarme. Case Study d'un système installé sur 1300 km de pipeline.
13h00 - 14h00	Déjeuner et visite de l'exposition

Machine Learning et gestion de données

13h00 - 14h00	Déjeuner et visite de l'exposition
14h00 - 15h00	Utilisation d'outils de Machine Learning dans LabVIEW pour répondre aux défis du Big Analog Data Salah-Eddine ISMAIL - National Instruments L’Internet industriel des Objets (IIoT) révolutionne bon nombre de processus industriels en facilitant la contextualisation, le traitement et la transformation en informations exploitables des données issue de systèmes connectés. Dans cette session vous découvrirez comment les outils NI vous permettent d’accéder à ces informations à l’aide, entre autres, des toolkits LabVIEW Analytics et Machine Learning.
15h00 - 16h00	Gérer vos données - du stockage à l'IA d'analyse Jean-Philippe BRAUD - Phalanx Le CERN acquiert 1 pétaoctet de données par essai et SpaceX acquiert 1 pétaoctet par seconde lors d'un lancement : toutes les entreprises acquièrent plus et plus vite. Mais comment stocker intelligemment ces données ? Qu’en faire une fois acquises ? L'intelligence artificielle peut-elle aider ? Passage en revue les stratégies et produits existants pour répondre à ces questions.
16h00 - 17h00	Cocktail de clôture et finale de la coupe robotique sur l'exposition

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Aérospatiale et défense

8h30 - 9h00	Petit déjeuner et visite de l'exposition
9h00 - 10h30	Keynote du matin
10h30 - 11h00	Visite de l'exposition
11h00 - 12h00	Valises de mesure vibratoire de ventilateurs aéronautiques Julien DELAUNAY - Testea Renaud MERCIER - Safran Ventilation Systems SAFRAN VENTILATION SYSTEMS a choisi TESTEA pour la réalisation de valises de test permettant de mesurer les vibrations sur des ventilateurs aéronautiques et de tester ses cartes électroniques de contrôle des ventilateurs. Ces valises sont vendues aux compagnies aériennes et aux différentes stations de réparation à travers le monde. La valise est principalement constituée d'un système CompactRIO doté d'un contrôleur cRIO-9063 et d'un module de mesure vibratoire NI-9230 (tests de vibrations) ou d'un module de communication RS-232 NI-9870 (tests des cartes électroniques). L'ensemble est géré au travers d'une application logicielle développée par TESTEA dont les fonctionnalités sont accessibles au travers d'un écran tactile. À ce jour, plus de 17 systèmes ont été livrés.
12h00 - 13h00	Rétrospective TOSCA : de la carte ISA au multi-châssis PXIe pour le test de moteurs d’avions Marc-Henri POTTIER - DGA Essais Propulseurs
13h00 - 14h00	Visite de l'exposition
14h00 - 15h00	Interfaçage et test d’UUT - Liaisons série rapides (Ethernet 1G/10G, Aurora, Serial RapidIO) Guillaume BRIANTAIS - Arcale pour une application THALES
15h00 - 16h00	EUROCAE WG 97 ED-247 (VISTAS) : nouveau standard de virtualisation des signaux aéronautiques sur Ethernet Olivier FOURCADE - Airbus
16h00 - 17h00	Cocktail de clôture et finale de la coupe robotique sur l'exposition

Test et validation automobile et ferroviaire

8h30 - 9h00	Petit déjeuner et visite de l'exposition
9h00 - 10h30	Keynote du matin
10h30 - 11h00	Visite de l'exposition
11h00 - 12h00	La mutation automobile a déjà commencé, participez à la transition ! Arturo VARGAS - National Instruments L’industrie automobile ne s’intéresse plus uniquement qu’à la construction de voitures. Désormais, les ingénieurs tirent parti des nouvelles tendances de l’électrification, des communications V2X et de l’ADAS (système d’aide à la conduite automobile) pour fournir des services de transport qui facilitent les déplacements des personnes et des marchandises. Venez écouter les leaders de l’industrie discuter des opportunités de collaboration pour construire et tester les véhicules du futur.
12h00 - 13h00	Test HIL à partir des technologies NI PXI et SLSC : un exemple de l’ADAS iiT (en anglais) Frank HEIDEMANN - SET GmbH Laurent CHATARD - Konrad Technologies Axel MEINEN - S.E.A. Datentechnik GmbH Avec l’avènement de la conduite autonome, l’industrie automobile doit mettre en œuvre des solutions flexibles de test HIL et ADAS afin de répondre aux exigences de test en rapide évolution. D'autre part, la demande en solutions non seulement flexibles mais également standardisées et innovantes ne fait que s’accroître. Au premier abord, ce défi semble impossible à relever en une seule étape, mais la technologie NI et le réseau ADAS iiT peuvent apporter une réponse. Pendant cette session, vous découvrirez comment l'ADAS iiT a créé une solution pour le test HIL, les communications V2X et la validation radar en mettant à profit ces principes.
13h00 - 14h00	Visite de l'exposition
14h00 - 15h00	Matériels d’Essais et de Tests de freins Electropneumatiques Optimisés de Rennes (METEOR) Abdel ADEN - SNCF
15h00 - 16h00	Standardisation d'un parc de testeurs industriels Vincent ROUGET, Xavier DUMOUT, Arnaud GALMICHE - Alstom Standardisation et gestion à l'international d'un parc conséquent de testeurs industriels dans le domaine de l'électronique ferroviaire : quels sont les enjeux de cette standardisation et quelles sont les solutions logicielles et matérielles mises en place pour y répondre ? Gros plan sur la Hardware Abstraction Layer d'Alstom développée à l'aide des outils National Instruments.
16h00 - 17h00	Cocktail de clôture et finale de la coupe robotique sur l'exposition

Test de semi-conducteur

13h00 - 14h00	Déjeuner et visite de l'exposition
14h00 - 15h00	Banc de corrélation pour signaux mixtes basé PXI Amine LTAIEF & Alexandra FALKINER ANDREWS - ST Microelectronics Grâce aux modules Digitaux et Analogiques de NI, le banc développé permet de fournir des mesures de références en terme de validation (Levels, Timing, Process & Packages) à des fins de caractérisation de production et en volume sur ATE (Testeur de production). Les cartes NI embarqués dans la plate-forme sont pilotées par une interface interactive développée sur TestStand et LabVIEW.
15h00 - 16h00	Mise en œuvre d’une plate-forme de test circuits intégrés hautes fréquences Eric LENOIR - NXP La nouvelle génération de circuits intégrés pour la téléphonie cellulaire développée par NXP nécessitait la mise en œuvre d’un équipement de test industriel pas encore disponible sur le marché des ATE au moment des phases de ramp up. Les équipes de NXP Caen ont développé une solution de test Rack and Stack basée sur une plate-forme de test automatique NI PXI.
16h00 - 17h00	Cocktail de clôture et finale de la coupe robotique sur l'exposition

Enseignement et recherche

8h30 - 9h00	Petit déjeuner et visite de l'exposition
9h00 - 10h30	Keynote du matin
10h30 - 11h00	Visite de l'exposition
11h00 - 12h00	Surmonter les obstacles à la mise en œuvre d'une pédagogie par projet National Instruments Le rythme de l'innovation a engendré des changements majeurs dans l'industrie et l'enseignement supérieur. Ces changements ont portés au premier plan de nouveaux programmes d'enseignements dont la pédagogie par projet. Découvrez comment quatre universités ont réussi à surmonter les obstacles à l’implémentation du programme de pédagogie par projet.
12h00 - 13h00	Premiers résultats expérimentaux de l’intégration de la VLC (communication par lumière visible) pour la 5G Xun ZHANG - ISEP Le projet européen du H2020 sur l’IoRL (Internet of Radio Light) vise à améliorer la connectivité 5G en intérieur, souvent négligée, et la livraison des services en intégrant les VLC (communications par lumière visible) et les ondes millimétriques des têtes radios distantes. Le framework réalisé offre une amélioration notable au niveau de plusieurs indicateurs clés de performance dans les environnements en intérieur, tout en minimisant les interférences, la consommation d’énergie, l’exposition nocive aux rayonnements électromagnétiques et en fournissant une précision de localisation inférieure à 10 cm.
13h00 - 14h00	Déjeuner et visite de l'exposition
14h00 - 15h00	Utilisation de la radio logicielle sur un banc pour la caractérisation d'oscillateurs ultra-stables Gwenhael GOAVEC & Pierre-Yves BOURGEOIS - Femto-ST Démonstration de l'utilisation de la radio logicielle sur un banc assemblant deux USRPs X310 synchronisés en temps et en fréquence pour réaliser un banc de caractérisation de bruits de phase d'oscillateurs ultra-stables. Un tel montage tire le meilleur parti de la stabilité et de la flexibilité du traitement numérique de signaux radiofréquences. La principale difficulté rencontrée porte sur la fusion entre la bibliothèque UHD et un code totalement indépendant du matériel. Ce montage a permis de mesurer un plancher de bruit à -160dbRad2/Hz.
15h00 - 16h00	Simulation temps réel de circuits d'électronique de puissance pour véhicules électriques avec un modèle de comportement transitoire d'IGBT (en anglais) Fei GAO - UTBM / FEMTO - ST Pendant cette présentation, nous présenterons un nouveau modèle comportemental d’IGBT (Insulated Gate Bipolar Transistor) sur FPGA (Field Programmable Gate Array), qui est adapté pour la simulation temps réel de transitoires rapides dans les circuits d’électronique de puissance. Le modèle IGBT développé combine les sous-modèles statiques et transitoires pour décrire des comportements des transitoires de commutation rapide, en utilisant une approche de modélisation des circuits équivalents de l’IGBT. Le modèle IGBT présenté ne comprend aucun algorithme de résolution itératif et est spécialement conçu et optimisé via des structures très pipelinées pour l’implémentation NI PXIe FPGA. Sur la carte NI PXIe 7975R FPGA, le transitoire de commutation modélisé permet d’obtenir une résolution de simulation temps réel de 5 ns, et de reproduire de façon précise les formes d’onde des commutations transitoires de l’IGBT.
16h00 - 17h00	Cocktail de clôture et finale de la coupe robotique sur l'exposition

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Programme NI de badges numériques

Partager vos réussites n'a jamais été aussi facile.

Le programme NI de badges numériques vous permet de mettre gratuitement en avant vos certifications NI et d’afficher toutes vos réussites.

Les badges délivrés contiennent des données vérifiées et personnalisées, y compris le détail des examens que vous avez passés pour obtenir vos certifications ou les compétences testées dans un domaine d’application donné.

Les avantages des badges numériques

Evaluez votre niveau de connaissances, et découvrez les étapes à suivre pour progresser
Permettez aux recruteurs, à vos pairs et clients de vérifier instantanément vos compétences
Partagez vos badges en toute simplicité sur de nombreux réseaux sociaux

Badges NI


Badges d’apprentissage Découvrez les concepts fondamentaux de l’ingénierie et les meilleures pratiques d'utilisation des produits NI au travers de formations à la demande, testez vos connaissances en vous auto-évaluant puis partagez votre réussite.	Certification professionnelle Démontrez que vous disposez des compétences nécessaires pour concevoir des applications de haute qualité à l’aide des logiciels NI. Mettez vos compétences en exergue sur les réseaux sociaux et les sites d’emplois pour donner un nouvel élan à votre carrière.	Reconnaissance de la communauté Soyez reconnu(e) pour votre leadership technique, votre participation et vos contributions à la communauté d’utilisateurs NI et au vaste écosystème NI d’outils et de développeurs experts.

Badges d'apprentissage

Comment obtenir mes badges ?

Rendez-vous sur ni.com/badges pour passer un test d’évaluation. Les tests sont gratuits, non limités en temps, et vous pouvez vous aider de tous les documents dont vous avez besoin
Répondez correctement à 85% des 15 à 20 questions du test
Passez immédiatement vos résultats en revue
- Vous n’avez pas obtenu le score nécessaire ? Consultez les ressources d’apprentissage recommandées et réessayez autant de fois que souhaité.
- Dans les 24 h qui suivent la validation du test, vous recevrez un e-mail de confirmation en provenance d’Acclaim. Ce message contient les instructions pour récupérer votre badge numérique.
Obtenez tous les badges d’un même parcours d’apprentissage et recevez le badge de niveau supérieur

Passez les examens d’évaluation avant de démarrer un nouveau projet afin d’identifier d'éventuelles lacunes. Réexaminez ensuite les ressources pédagogiques associées pour développer de nouvelles compétences.

Parcours d'apprentissage en vedette

La gamme de badges numériques NI se déploie au travers de 13 parcours d’apprentissage ; de nouvelles options sont en développement.


Automatisez les tâches simples et effectuez des mesures basiques et ponctuelles. Construisez un simple VI en boucle ou de séquencement à partir de zéro. (LabVIEW et LabVIEW NXG)	Effectuez des mesures adéquates à l’aide de LabVIEW et du matériel d’acquisition de données NI. Construisez une solution de mesure personnalisée pour acquérir et visualiser des signaux réels.	Jetez les bases des principes de test et de mesure qui vous aideront à tester de multiples produits à l’aide d’une plate-forme de test.

Conseil : Passez les examens d’évaluation gratuits avant de commencer un nouveau projet afin d’identifier d'éventuelles lacunes. Examinez ensuite le contenu d’apprentissage pour compléter vos connaissances et développer vos compétences.

Rendez-vous sur ni.com/badges pour passer un test d’évaluation et obtenir un badge.

Vous avez des questions ? Envoyez un e-mail à BadgeManager@ni.com.

Planning des sessions

8h30 - 9h00	Petit déjeuner et visite de l'exposition
9h00 - 10h30	Keynote du matin
10h30 - 11h00	Visite de l'exposition
11h00 - 12h00	Session de préparation à la certification LabVIEW CLD Marc-Junior LARROUY - National Instruments La certification est un excellent moyen de dynamiser le potentiel de carrière des développeurs et ingénieurs qui utilisent les logiciels NI. Elle témoigne de solides compétences techniques et peut conduire à des promotions, ouvrir de nouvelles opportunités et permettre de décrocher des augmentations. Pour les entreprises, elle représente un investissement stratégique , puisqu'elle permet d'améliorer la productivité, de réduire les mouvements d'effectif et de bénéficier d'un avantage concurrentiel. Cette session de préparation sera l'occasion de passer en revue les points nécessaires pour obtenir la certification NI Certified LabVIEW Developer (CLD).
13h00 - 14h00	Déjeuner et visite de l'exposition

Modalités d’inscription
Rendez-vous à l’accueil principal à partir de 8h30 et tout au long de la journée, pour vous inscrire à la session de votre choix.
Attention : 5 min avant le début de la session, nous ne prendrons plus d’inscriptions à l’accueil principal. Vous devrez alors vous rendre directement devant la salle de TP et nous vous indiquerons s’il reste de la place ou non.

Espace travaux pratiques en libre accès
23 postes de travaux pratiques seront accessibles tout au long de la journée dans la salle Maillot – l’occasion pour les visiteurs de tester à leur rythme divers produits, matériel et logiciels, au travers d’exercices pratiques mis à disposition sur chaque poste. Des ingénieurs seront présents pour vous assister dans vos manipulations et répondre à vos éventuelles questions. Voici les thèmes des travaux pratiques qui seront disponibles dans cette salle :

Introduction à la programmation graphique LabVIEW et LabVIEW NXG
Introduction à l'acquisition de données avec LabVIEW
Contrôle/commande et systèmes embarqués avec le matériel CompactRIO
Analyses et rapports de données avec DIAdem
Prise en main d'une radio logicielle avec USRP RIO
Systèmes embarqués myRIO pour l'enseignement
Enregistrement sans programmation avec NI Flexlogger sur CompactDAQ

Programme des travaux pratiques
11h00 - 12h30	Test automatique avec TestStand et l'instrumentation PXI Elodie KERFOURN - National Instruments	Test et validation temps réel avec VeriStand Tony TRAN - National Instruments
15h00 - 16h30	Introduction à la mesure RF sur PXI avec le VST Karim EL OUELDRHIRI - National Instruments	Test et validation temps réel avec VeriStand Thomas LEMIERE - National Instruments

Introduction à la programmation graphique avec LabVIEW NXG

Que vous soyez novice en programmation graphique ou utilisateur de LabVIEW, ne manquez pas de tester LabVIEW NXG, la nouvelle génération de l’outil phare de National Instruments. Au travers d’exercices guidés, vous apprendrez à construire une application de mesure et de surveillance de température.

Introduction à l'acquisition de données avec LabVIEW

À l’aide d’un PC, mesurez une température provenant d’un thermocouple, enregistrez les données recueillies dans un fichier et pilotez une sortie numérique physique en cas de dépassement d’un seuil. Vous aurez l’occasion de manipuler un grand nombre de modules de mesure : de tensions analogiques, d’entrées numériques, d’accéléromètres, de déformation et de température ou encore de sorties numériques et de génération de tension.

Contrôle/commande et systèmes embarqués avec le matériel CompactRIO

Découvrez comment un matériel COTS basé FPGA, combiné à LabVIEW, environnement de programmation graphique, permet de réduire le temps de développement et le coût global de la conception d’un système embarqué. Apprenez ainsi comment concevoir, prototyper et déployer des systèmes embarqués autonomes, durcis au travers de différents exercices (contrôle/commande, surveillance...) qui vous permettront de prendre en main LabVIEW pour programmer graphiquement des cibles temps réel et FPGA, NI CompactRIO.

Test automatique avec TestStand et l'instrumentation PXI

Découvrez comment programmer des instruments modulaires NI et utiliser des systèmes PXI pour effectuer des tests fonctionnels sur différents matériels, et développer un système de test parallèle avec une bande passante élevée.

Session guidée en salle - voir planning ci-dessus.

Introduction à la mesure RF sur PXI avec le VST

L'objectif de cette session est de prendre en main le PXI et le transcepteur de signaux vectoriels (VST) pour effectuer une série de mesures (ACP, EVM, TOI, entre autres.) sur quelques-uns des standards RF les plus connus (WLAN, LTE, etc.). Vous découvrirez ainsi les avantages de l’instrumentation PXI conçue par logicielle pour les applications de conception et de test RF et hyperfréquence.

Session guidée en salle - voir planning ci-dessus.

Test et validation temps réel avec VeriStand

Lors de cette session de travaux pratiques, venez prendre en main l'environnement unique de configuration et de développement de vos applications de test temps réel : NI VeriStand. À travers un exemple d'application, vous mettrez en œuvre une plate-forme PXI temps réel pour tester un contrôleur (ECU) à travers une simulation embarquée Hardware-In-the-Loop (HIL).

Session guidée en salle - voir planning ci-dessus.

Analyses et rapports de données avec DIAdem

Si comme beaucoup vous mesurez et stockez vos données par convention mais n’exploitez pas les informations précieuses qu’elles contiennent parce qu’elles sont enregistrées dans des fichiers ou encore des formats différents, DIAdem est l’outil complémentaire incontournable. Découvrez comment effectuer des recherches dans des données de température structurées au format TDMS ou importées, ajouter des métadonnées au besoin, puis les analyser avec des fonctions mathématiques, créer des rapports professionnels et automatiser les actions à l’aide de scripts.

Prise en main d'une radio logicielle avec USRP RIO

Découvrez comment LabVIEW peut vous aider à concevoir, prototyper et déployer des systèmes de communication sans fil avec la plate-forme de radio logicielle NI USRP RIO et LabVIEW Communications System Design Suite. L’exemple du TP est basé sur un signal LTE avec une modulation OFDM en temps réel qui est compilée sur un FPGA puis transmis par radio à partir du déploiement sur l’USRP RIO.

Systèmes embarqués myRIO pour l'enseignement

Venez découvrir la nouvelle plate-forme NI myRIO dédiée à l’apprentissage de l’embarqué pour les étudiants. NI myRIO est un outil abordable pour l'enseignement et la mise en œuvre de plusieurs disciplines industrielles (contrôle/commande, robotique, mécatronique). Autour d'un système d'exploitation temps réel, le matériel basé sur la plate-forme Zynq de Xilinx intègre un processeur double-cœur, un FPGA, le WiFi et un accéléromètre 3 axes.

Enseignement des concepts fondamentaux d’ingénierie avec le NI ELVIS III

Venez découvrir le NI ELVIS III (NI Educational Laboratory Virtual Instrumentation Suite III), une plate-forme permettant une pédagogie par projet, qui combine instrumentation, conception embarquée et connectivité web pour l'enseignement des principes fondamentaux de l'ingénierie.

Enregistrement sans programmation avec NI Flexlogger sur CompactDAQ

Venez découvrir comment FlexLogger permet de construire des systèmes d'enregistrement de données flexibles et évolutifs avec le matériel CompactDAQ, sans aucune programmation. Dans ces travaux pratiques, détectez automatiquement des capteurs pour réaliser des mesures de température, d’accélération, de déformation, de définir des comportements de déclenchement d’enregistrement, d’afficher et d’analyser des résultats avec Diadem pour la création d’un rapport automatique.