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title> 自動車向け計測技術ポータル - NI
自動車向け計測技術
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技術資料
課題解決・最適化
テーマ
テストシステム構築の基本
おすすめ
HIL投資のアップグレード：テストの中断を確実に防ぐ
産業用組込制御プロジェクトの構築または購入の決定を行う際の考慮事項
センサフュージョンを使用したADAS HIL
自動テストシステムの総所有コスト（TCO）をモデル化する
おすすめ
パワートレイン向け HILテストに最適なテスト手法
テストシステムのコンポーネントの生産終了（EOL）が原因でテストが止まるのを防ぐには
装置に生じた小さな変化を検知するための状態監視向けセンサ技術
ソフトウェア設計型計測器が可能にする限界のない開発
分散型計測システムの構築
計測システムに最適な視覚化技術を選択するには
計測システムに最適なドライバソフトウェアの選び方
計測システムをつかさどるコンピュータ、5つのタイプから最適解はこう選ぶ
PXIモジュール式計測器を使用した電源管理ICテスト
シグナルインテリジェンスの戦略、集録から解析まで
テストステーションの実装およびリワークのコスト削減
LXI、USB、PXI Express、VXIなどデバイスを1つのハイブリッドテストシステムに統合する方法
データ管理
テーマ
Hidden Costs of Data Mismanagement（英語）
生データから工学的結果を導き出す：NIのテクニカルデータ管理ソリューション
データ管理ソリューションのカスタム設計
測定データの解析とレポート: Microsoft Excelの制約を克服する
おすすめ
DataFinderとは
IT担当者が知りたいTDM Server（DataFinder ServerとAnalysis Server）に関するQ&A
SystemLink TDM Data Preparation Add-onで計測データの標準化、強化、および検証を自動化する
おすすめ
DIAdemを使用してFlexLogger™のデータの検索、解析、レポート作成を行う
SystemLink TDM Analysis Add-onで計測データの解析とレポート生成を自動化する
状態監視・予知保全
テーマ
産業用機器の異常検知のための基礎データ収集
（講演資料）
なぜ思い描く予知保全システムが実現できないのか？
おすすめ
（コミュニティトピック）
AIを用いた異常検知テストシステム
計測技術解説
テーマ
実は知られていないオシロスコープで最も重要な3つの仕様
サンプリングの品質
アナログ回路の基礎
ディザリング、レイアウト、高品質コンポーネント ― ノイズフロアを削減するツール
車載用通信バスFlexRayの概要
圧力センサで圧力を測定する
画像の解析、処理
加速度計を使った振動計測
OFDMおよびマルチチャンネルの通信システム
温度センサの概要
PID 理論解説
通信システムにおけるパルス整形フィルタ処理
センサの基礎知識
空間音響と残響時間
DMMを併用した低レベル信号のスイッチ切り替え
計測器仕様を理解する ― 計測用語の概要
デジタルテストシステムのLVDSを理解する
拡散スペクトル通信について理解する
歪みゲージを使った歪み測定
ディスクとのデータストリーミング
マイクロホン ハンドブック
変位/位置センサ
LIN（Local Interconnect Network）バスの概要
欠陥生成ユニット（FIU）を使用した電子機器テスト
信号調節とは？
デルタシグマA/D変換のメリット
グランドループとグランドリターン
高電圧/絶縁計測
圧力計測の概要
ホイートストーンブリッジ計測デバイスを選定
ブリッジベースセンサで負荷とトルクを計測
マイクロフォンでサウンドを計測
デバッグドライバセッション技術入門
機能安全の概要
NI製品
NIソフトウェア・ハードウェア
テーマ
MATLAB®, Simulink®, and LabVIEW FPGA: Importing HDL Coder™ Exports into LabVIEW FPGA Designs（英語）
PXIおよびCompactRIO向けSLSC拡張によりHILテストの時間の短縮と再利用の最大化を実現する
ユーザプログラマブルFPGAでオシロスコープを使った計測の速度と品質を向上
NI電気モータシミュレーションツールキットを使用した電気モータの高精度シミュレーション
NI-DAQmxでプログラム可能なCompactRIOとは
FlexLogger™ TDMSビューアを使用してテスト結果を表示する
FlexLogger™でテストを実行する
FlexLogger™の計測を構成する
ATE基本コンフィギュレーションとは何か
他社製のデバイスや監視システムへのシームレスな接続
Xilinx Kintex UltraScale搭載の新型FlexRIOモジュールの概要
FieldDAQの概要
CompactRIOの機能安全
TSN Ethernetベースの分散型測定システムの設計
FieldDAQを選択して堅牢性の高い分散データ収集を実現
CompactRIOを使ったロギングと監視 - 優れた多目的コントローラ
Intel XeonとPCI Express Gen 3によるテスト/計測システムの強化
NIソフトウェア設計型計測器のプログラミングオプション
CompactRIO高性能コントローラ：性能/スループットベンチマーク
PXIアーキテクチャの導入
CompactRIO低価格コントローラとは？
NI Linux Real-Timeの内部
多チャンネル高速計測システムの開発における問題を解決する
ハードウェアをNI LabVIEWと統合
Xilinx 7シリーズFPGAデバイスのメリット
自動テストに使用されるモジュール式計測システム
業界最高性能を誇るPXI Expressプラットフォームのストリーミングアーキテクチャ
NI Single-Board RIO汎用インバータコントローラ（GPIC）が実現する開発時間の短縮とリソースの有効活用
NI PXIにおけるタイミング/同期設計の強み
NI PXIモジュール式計測器の設計がもたらすメリット
Xilinx CORE Generator IPパレットでIPコアの再利用を促進
NI VeriStandでリアルタイム刺激プロファイルを作成
LabVIEW FPGAコンパイルオプション
ネットワークストリームとのロスレス通信: コンポーネント、アーキテクチャ、パフォーマンス
NI VeriStand用CAN/LIN/FlexRayインタフェース
LabVIEWによる設計とテストの統合
LabVIEWを使用したソフトウェアエンジニアリング
RAIDの概要
CAN/LIN/FlexRayプラットフォームNI-XNETの概要
NIのデータ収集技術：精度と性能の両立
LabVIEWにおけるカーブフィットモデルと方法の概要
NI PXI組込コントローラ設計の強み
NI PXIシャーシ設計の強み
LabVIEWで次数解析を行う
LabVIEW FPGAでデジタル通信インタフェースを作成する（その1）
3ステップでNIハードウェアとソフトウェアを使ってリアルタイムシステムを構築